4.22 静电放电抗扰度试验
4.22.1 目的
检验探测器对带静电人员、物体造成的静电放电的适应性。
4.22.2 试验方法
4.22.2.1 将试样放在距接地参考平面0.8 m的支架上。接通电源，使试样处于正常监视状态，保持 15 min。
4.22.2.2 对绝缘体外壳的试祥，实施空气放电；对导体外壳的试样，实施接触放电。
4.22.2.3 按GB/T 17626.2—1998中的要求，对试样施加表4所示条件的电磁干扰：
检验探测器对带静电人员、物体造成的静电放电的适应性。
4.22.2 试验方法
4.22.2.1 将试样放在距接地参考平面0.8 m的支架上。接通电源，使试样处于正常监视状态，保持 15 min。
4.22.2.2 对绝缘体外壳的试祥，实施空气放电；对导体外壳的试样，实施接触放电。
4.22.2.3 按GB/T 17626.2—1998中的要求，对试样施加表4所示条件的电磁干扰：
4.22.2.4 干扰期间，观察并记录试样的工作状态。
4.22.2.5 干扰结束后，按4.2.3条规定方法测量响应点D值，与该试样在一致性试验中的D值相比较，大者为Dmax，小者为Dmin，计算响应阈值比Smax：Smin。
4.22.2.5 干扰结束后，按4.2.3条规定方法测量响应点D值，与该试样在一致性试验中的D值相比较，大者为Dmax，小者为Dmin，计算响应阈值比Smax：Smin。
4.22.3 要求
试验期间，试样不应发出报警信号或不可恢复的故障信号；试验后，试样响应阈值比Smax：Smin应不大于1.3。
4.22.4 试验设备
试验设备应满足GB/T 17626.2—1998的规定。
试验设备应满足GB/T 17626.2—1998的规定。