5.20 静电放电抗扰度试验
5.20.1 试验步骤
5.20.1.1 将试样按GB/T 17626.2的规定进行试验布置，按5.1.2的规定使试样处于正常监视状态，保持20min。
5.20.1.2 按GB/T 17626.2中规定的试验方法对试样及耦合板施加表7所示条件下的干扰试验，期间观察并记录试样状态。
5.20.1.3 上述试验完成后，按5.1.7的规定，分别以3°C/min和20°C/min的升温速率升温至试样动作。记录试样在各升温速率下的响应时间。
5.20.2 试验设备
试验设备应满足GB/T 17626.2的要求。
5.20.1.1 将试样按GB/T 17626.2的规定进行试验布置，按5.1.2的规定使试样处于正常监视状态，保持20min。
5.20.1.2 按GB/T 17626.2中规定的试验方法对试样及耦合板施加表7所示条件下的干扰试验，期间观察并记录试样状态。
5.20.1.3 上述试验完成后，按5.1.7的规定，分别以3°C/min和20°C/min的升温速率升温至试样动作。记录试样在各升温速率下的响应时间。
5.20.2 试验设备
试验设备应满足GB/T 17626.2的要求。
- 上一节：5.19 振动（正弦）（耐久）试验
- 下一节：5.21 射频电磁场辐射抗扰度试验