5.11 振动（正弦）（运行）试验
5.11.1 目的
检验探测器长时间承受振动影响的能力。
5.11.2 方法
5.11.2.1 将试样及其底座固定在振动试验台上，接通控制和指示设备，使其处于正常监视状态。
5.11.2.2 依次在三个互相垂直的轴线上，在10Hz～150Hz的频率循环范围内，以5m/s2的加速度幅值，1倍频程每分的扫频速率，各进行1次扫频循环。
5.11.2.3 振动结束后，按相应的5.2.1.3、4.3.3.2、5.4.1.2、4.5.1、4.5.2规定方法测量响应阈值。
5.11.3 要求
探测器应满足4.1.8.1规定。
5.11.4 试验设备
试验设备应符合GB 16838的规定。
检验探测器长时间承受振动影响的能力。
5.11.2 方法
5.11.2.1 将试样及其底座固定在振动试验台上，接通控制和指示设备，使其处于正常监视状态。
5.11.2.2 依次在三个互相垂直的轴线上，在10Hz～150Hz的频率循环范围内，以5m/s2的加速度幅值，1倍频程每分的扫频速率，各进行1次扫频循环。
5.11.2.3 振动结束后，按相应的5.2.1.3、4.3.3.2、5.4.1.2、4.5.1、4.5.2规定方法测量响应阈值。
5.11.3 要求
探测器应满足4.1.8.1规定。
5.11.4 试验设备
试验设备应符合GB 16838的规定。