4.20 射频场感应的传导骚扰抗扰度试验
4.20.1 目的
检验产品对电气和电子设备对来自9kHz?80MHz频率范围内射频发射机电磁骚扰现象的抗干扰性。
4.20.2 试验方法
在实验室进行的试验，试验配置遵循GB/T 17626.6-1998中第7章的规定。
图26为单一受试设备试验布置图；图27为多单元系统的试验布置图；图28为选择注入法的规则。
在条件试验过程中试验样品应接通电源并处于监视状态。条件试验后进行功能检测。
依次将试验信号发生器连到每个耦合和去耦装置上，而其他不被激励的耦合装置的射频输人端口应端接50Ω电阻负载。
为了防止（高次或次）谐波干扰受拭设备，应使用滤波器。在拭验信号发生器后面可能要求用100 kHz髙通滤波器（HPF)。低通滤波器（LPF)的阻带特性应能充分抑制谐波以便不影响测量结果。在调整测量电平之前，应在试验信号发生器的后面插入这些滤波器。
对于来自试验配置的辐射应遵守有关干扰法规。当辐射的能量超过允许的电平时，应在屏蔽室内进行。
按试验程序设定的信号电平在150kHz?80MHz频率范围内扫频，骚扰信号为1kHz正弦波调幅，调制幅度为80%。如果需要，暂停试验并调整射频信号电平或切换耦合装置。扫描速率不能超过1.5×10-3十倍频/秒，当扫描频率增加时，步长不应超过开始频率的1%。此后，步进的大小不应超过前一频率值的1%。在每一频率上的驻留时间，不应少于受试设备所需的运行和响应时间。对于敏感频率，例如，时钟频率及其谐波或主要感兴趣的频率应分别进行分析。
4.20.3 严酷等级（见表23)
4.20.4 试验设备
试验设备应符合GB/T 17626.2-1998第6章的规定。
检验产品对电气和电子设备对来自9kHz?80MHz频率范围内射频发射机电磁骚扰现象的抗干扰性。
4.20.2 试验方法
在实验室进行的试验，试验配置遵循GB/T 17626.6-1998中第7章的规定。
图26为单一受试设备试验布置图；图27为多单元系统的试验布置图；图28为选择注入法的规则。
在条件试验过程中试验样品应接通电源并处于监视状态。条件试验后进行功能检测。
依次将试验信号发生器连到每个耦合和去耦装置上，而其他不被激励的耦合装置的射频输人端口应端接50Ω电阻负载。
为了防止（高次或次）谐波干扰受拭设备，应使用滤波器。在拭验信号发生器后面可能要求用100 kHz髙通滤波器（HPF)。低通滤波器（LPF)的阻带特性应能充分抑制谐波以便不影响测量结果。在调整测量电平之前，应在试验信号发生器的后面插入这些滤波器。
对于来自试验配置的辐射应遵守有关干扰法规。当辐射的能量超过允许的电平时，应在屏蔽室内进行。
按试验程序设定的信号电平在150kHz?80MHz频率范围内扫频，骚扰信号为1kHz正弦波调幅，调制幅度为80%。如果需要，暂停试验并调整射频信号电平或切换耦合装置。扫描速率不能超过1.5×10-3十倍频/秒，当扫描频率增加时，步长不应超过开始频率的1%。此后，步进的大小不应超过前一频率值的1%。在每一频率上的驻留时间，不应少于受试设备所需的运行和响应时间。对于敏感频率，例如，时钟频率及其谐波或主要感兴趣的频率应分别进行分析。
4.20.3 严酷等级（见表23)
试验设备应符合GB/T 17626.2-1998第6章的规定。
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