4.7 低温试验
4.7.1耐低温性能试验
取5只易熔合金元件试件安装在卡具上，使其承受最大设计载荷，并置于低温试验箱中。箱内温度保持在-30℃±2℃，历时24h，观察每一试件是否完好以及出现损坏的状况。
4.7.2低温贮存试验
取10只带产品出厂包装的易熔合金元件置于低温试验箱中，箱内温度保持在-40℃士 2℃，历时24h，然后在室温下放置24h，仔细检查每一试件的状况。
低温贮存试验后的试件，按4.3规定的方法进行强度试验，先用5只按4.3.1规定的方法进行试 验,如果未能通过，再用其余5只按4.3.2规定的方法进行试验。
取5只易熔合金元件试件安装在卡具上，使其承受最大设计载荷，并置于低温试验箱中。箱内温度保持在-30℃±2℃，历时24h，观察每一试件是否完好以及出现损坏的状况。
4.7.2低温贮存试验
取10只带产品出厂包装的易熔合金元件置于低温试验箱中，箱内温度保持在-40℃士 2℃，历时24h，然后在室温下放置24h，仔细检查每一试件的状况。
低温贮存试验后的试件，按4.3规定的方法进行强度试验，先用5只按4.3.1规定的方法进行试 验,如果未能通过，再用其余5只按4.3.2规定的方法进行试验。
- 上一节：4.6 耐环境温度试验
- 下一节：4.8 盐霉腐蚀试验